SYSTÈME DE MESURE DE CAPTEUR À EFFET HALL CAPABLE DE DÉTERMINER UN DÉCALAGE AU MOYEN DE L'ÉLÉMENT À EFFET HALL LUI-MÊME (Brevets)

Titre

SYSTÈME DE MESURE DE CAPTEUR À EFFET HALL CAPABLE DE DÉTERMINER UN DÉCALAGE AU MOYEN DE L'ÉLÉMENT À EFFET HALL LUI-MÊME

N° et date de publication de la demande

WO2015067675 - 14/05/2015

Type de la demande

A1

N° et date de dépôt

PCT/EP2014073856 - 06/11/2014

N° et date de priorité

GB201319627 - 06/11/2013

Classification CIB

G01R 33/00 ; H10N 52/00 ; G01R 33/07

Classification CPC

G01R 33/0029 ; G01R 33/0082 ; G01R 33/07 ; G01R 33/0035 ; G01R 15/202 ; G01R 33/0017 ; G01R 33/0029 ; G01R 33/0082 ; G01R 33/075 ; G01R 33/0029 ; G01R 33/0082 ; G01R 33/07 ; G01R 33/0035

Famille de brevets

WO2015067675A1 ; EP3066487A1 ; JP2017500733A ; US2016252589A1 ; KR20160083888A

Abrégé

La présente invention concerne un procédé permettant de compenser le décalage d'un capteur à effet Hall (100) comprenant au moins un élément à effet Hall (101) ayant un élément de détection en forme de plaque composé d'un matériau semi-conducteur dopé, le procédé comprenant l'utilisation de mesures sur l'élément à effet Hall lui-même. Le procédé comprend l'obtention d'un premier signal de lecture (VH) provenant du ou des éléments à effet Hall qui dépend essentiellement du champ magnétique, l'obtention d'un second signal de lecture (VP) provenant du ou des éléments à effet Hall qui dépend essentiellement du champ magnétique et l'utilisation du second signal de lecture (VP) pour obtenir une prédiction (Vo ) du décalage (Vo) par rapport au premier signal de lecture (VH).