Brevet : EP1517143 - Méthode pour corriger les effets d'élargissement de bande entre détecteurs

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Titre

Méthode pour corriger les effets d'élargissement de bande entre détecteurs

N° et date de publication de la demande

EP1517143 - 23/03/2005

Type de la demande

A2

N° et date de dépôt

EP04013526.1 - 08/06/2004

N° et date de priorité

US66590303 - 18/09/2003

Abrégé

L'invention concerne le domaine des séparations chromatographiques, souvent caractérisées par l'utilisation de multiples détecteurs à travers lesquels l'échantillon s'écoule en série. Lors de son écoulement entre les détecteurs, l'échantillon est progressivement dilué par mélange et diffusion. Ce phénomène est traditionnellement appelé ªélargissement de bandeº et il résulte fréquemment d'une distorsion significative des caractéristiques physiques calculées telles que la masse molaire et la dimension. Cela est particulièrement vrai dans le cas d'échantillons mono-dispersés tels que des protéines. L'invention décrit une nouvelle procédure permettant de corriger un grand nombre de types d'ªélargissement de bandesº afin d'obtenir des calculs plus précis desdites caractéristiques physiques. Un moyen conventionnel de correction des effets d'ªélargissement de bandesº repose sur une procédure mathématique visant à resserrer le pic élargi vers sa forme avant élargissement. Une telle procédure est connue pour son instabilité et elle entraîne souvent des résultats non physiques comme la cyclisation, les concentrations négatives, ou des intensités diffusées négatives. La présente invention décrit une méthode pour caractériser l'élargissement présent dans le système chromatographiques, et elle décrit un algorithme d'élargissement artificiel des pics étroits du détecteur en amont afin de pouvoir comparer ces pics artificiellement élargis à ceux du détecteur en aval. Malgré quelques pertes de résolution dues à cette technique, sa stabilité et sa généralité en permettent une vaste gamme d'applications. Plusieurs exemples comprennent la correction de l'élargissement de détecteurs RI situés à la suite de détecteurs MALS, la correction de l'élargissement de détecteurs MALS situés à la suite de détecteurs UV, la correction de l'élargissement par viscométrie à la suite de détections MALS et RI, et de toutes les permutations de celles-ci.

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INTERVENANTS

Déposant

WYATT TECHNOLOGY (WYATT TECHNOLOGY CORPORATION) - US

Titulaire

WYATT TECHNOLOGY CORPORATION - 6300 HOLLISTER AVENUE SANTA BARBARA, CA 93117 - US

Inventeur

TRAINOFF, STEVEN P. GOLETA, CA 93117 - US

Mandataire

CABINET PATRICE VIDON - 16B RUE JOUANET BP 90333 TECHNOPOLE ATALANTE - 35703 RENNES CEDEX 7 - FR

STATUT EN FRANCE : Déchu

Délivrance

15/08/2012

Date de constatation de déchéance

Dernière annuité payée

21/06/2017

Quantième- N° de l'annuité payée

14

Date de paiement de la prochaine annuité

02/07/2018

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