Brevet : WO2012126364 - PROCÉDÉ PERMETTANT DE MESURER UNE DISTORSION D'UN OBJECTIF DE PROJECTION
Titre
PROCÉDÉ PERMETTANT DE MESURER UNE DISTORSION D'UN OBJECTIF DE PROJECTION
N° et date de publication de la demande
WO2012126364 - 27/09/2012
Type de la demande
A1
N° et date de dépôt
PCT/CN2012072693 - 21/03/2012
N° et date de priorité
CN201110068060 - 21/03/2011
Classification CIB
Classification CPC
Famille de brevets
SG192887A1 ; EP2690496A1 ; US2013335718A1 ; WO2012126364A1 ; TW201245903A ; CN102692820A
Abrégé
Un procédé permettant de mesurer une distorsion d'un objectif de projection consiste : au moyen d'une exposition progressive d'étage de réticule (S21), à obtenir un premier écart de position entre deux motifs exposés dans le même champ d'exposition ; au moyen d'une exposition progressive d'étage de pièce à usiner (S22), à obtenir un second écart de position entre deux images exposées dans le même champ d'exposition ; et à supprimer les erreurs de déplacement d'un étage de réticule et/ou d'un étage de pièce à usiner dans les premier et second écarts de position afin d'obtenir un premier et un second écart corrigé (S43, S44), à soustraire un écart corrigé de l'autre écart corrigé (S45), et à obtenir une distorsion d'un objectif de projection par l'intermédiaire d'une mise en place (S46).
INTERVENANTS
Déposant
SHANGHAI MICROELECTRONICS EQUI (SHANGHAI MICRO ELECTRONICS EQUIPMENT CO., LTD.) - CN
FANG LI (FANG, LI) - CN
SUN GANG (SUN, GANG) - CN
MIN JINHUA (MIN, JINHUA) - CN
ZHANG JUN (ZHANG, JUN) - CN
Inventeur
FANG LI (FANG, LI) - CN
SUN GANG (SUN, GANG) - CN
MIN JINHUA (MIN, JINHUA) - CN
ZHANG JUN (ZHANG, JUN) - CN