Brevet : WO2005076281 - MEMOIRE NON VOLATILE
Titre
MEMOIRE NON VOLATILE
N° et date de publication de la demande
WO2005076281 - 18/08/2005
Type de la demande
A1
N° et date de dépôt
PCT/JP2005002108 - 04/02/2005
N° et date de priorité
JP2004033081 - 10/02/2004 ; JP2004033075 - 10/02/2004
Classification CIB
G11C 16/02 ; G11C 16/22 ; G11C 16/04 ; H01L 21/02 ; H01L 21/8247 ; H01L 27/12 ; H01L 29/786 ; H01L 29/788 ; H01L 29/792 ; H10B 69/00
Classification CPC
G11C 16/22 ; G11C 29/702 ; G11C 16/10 ; G11C 16/30 ; G11C 16/22 ; G11C 29/702
Famille de brevets
CN1918663A ; EP1714294A1 ; KR20070022654A ; US2008144374A1 ; WO2005076281A1 ; KR20120030572A ; JP2005259334A
Abrégé
Une cellule de mémoire pour stocker des données de 1 bit est formée au moyen d'au moins deux éléments de mémoire dans la mémoire non volatile de type OTP utilisant un élément de mémoire possédant deux états et capable de subir une transition dans un seul sens. Dans la mémoire non volatile de type OTP utilisant un élément de mémoire possédant deux états, à savoir un état H (premier état) et un état L (deuxième état) (ci-après dénommés simplement H et L), et capable de subir une transition par voie électrique, dans un seul sens, de L à H, une cellule de mémoire pour stocker des données de 1 bit est formée au moyen d'au moins deux éléments de mémoire.
INTERVENANTS
Déposant
SEMICONDUCTOR ENERGY LAB (SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.) - JP
KATO KIYOSHI (KATO, KIYOSHI) - JP
Inventeur
KATO KIYOSHI (KATO, KIYOSHI) - JP